Das Hochfrequenz-/Elektronik-Labor des IHCT beherbergt modernste Messgeräte und Messplätze für die elektrische Charakterisierung von integrierten mm-Wave/THz Schaltungen und Mixed-Signal-SoCs. Das Labor zeichnet sich durch die Möglichkeit der On-Wafer-Charakterisierung von Klein- und Großsignalen bis hin zu sehr hohen Frequenzen im THz-Bereich aus.

Zu diesem Zweck ist das Labor mit zwei Hochfrequenz-Wafer-Probern ausgestattet, die in einem Softwall-Reinraum platziert sind und ein präzises direktes kontaktieren von ICs ermöglichen. Das Labor umfasst einen 40-GHz-VNA und Extender-Module für Zweitor-Netzwerkanalysen bis hin zu 325 GHz. Die Messmöglichkeiten werden durch verschiedene Hochleistungs- und Breitband-THz-Auf- und Abwärtskonverter, Leistungsmesser, Split-Block-Hohlleiterkomponenten und koaxiale Messspitzen, um die Möglichkeit zur umfassenden on-wafer-Spektralanalyse und Leistungsmessung bis zu 1,1 THz erweitert.

Das Labor ist zudem mit Instrumenten für die vollständige THz-SoC-Verifikation ausgestattet, einschließlich Geräten zur Messung von Analog/Digital-Schnittstellen, AD/DA-Wandlern, Rauschen und DC-Eigenschaften. Darüber hinaus steht ein selbst-entwickeltes THz-Nahfeldmikroskop (basierend auf einem Rasterkraftmikroskop) für die Verifikation von THz-Sensor-SoCs und die mikroskopische biomedizinische THz-Bildgebung zur Verfügung.